KR: 저온, 고자기장 등 극한 환경에서 전하 수송 특성을 정밀 측정하여 저차원 시스템에서 나타나는 양자 수송 현상과 상전이를 연구.

EN: We perform precision transport measurements under extreme conditions (low temperature and high magnetic field) to investigate quantum transport and phase transitions. Quantum oscillation analysis is used to reconstruct the Fermi surface and to quantify energy structures and scattering mechanisms.

Keywords: Quantum transport, Phase transition (Metal/Insulator/Superconductor), Quantum oscillation, Fermi surface construction

· 저온·고자기장 조건에서의 전기적 수송 특성 측정

· Metal–Insulator–Superconductor 전이 현상 분석

· Quantum oscillation을 이용한 Fermi surface 재구성

· 에너지 구조 및 산란 메커니즘 규명

KR: 그래핀 및 TMD 등 이차원 물질을 기능성 기판 및 산화물과 결합하여 새로운 개념의 이종접합 소자와 나노 디바이스를 구현.

EN: We design and fabricate heterojunction nano devices by integrating 2D materials (graphene and TMDs) with functional substrates and oxides. We develop various fabrication and patterning methods and extend toward applications such as graphene-based oxide detectors and new concepts of transistors.

Keywords: 2D materials + functional substrates, Various methods for fabrication, Heterojunction, Graphene detector of oxides, New concept of transistors

· 2D materials + functional substrates 기반 이종접합 구조 설계

· 다양한 소자 제작 공정 및 패터닝 방법 개발

· 산화물 감지를 위한 그래핀 기반 디텍터 연구

· 새로운 개념의 트랜지스터 및 나노 소자 제안

KR: 산화물 반도체 기반 TFT의 공정, 물성, 소자 성능을 체계적으로 연구하며 차세대 전자·광전자 소자로의 확장을 목표

EN: We fabricate oxide thin-film transistors using sol-gel and sputtering processes and optimize device performance and stability via oxygen-vacancy control. We further investigate optoelectronic properties and environment-friendly heterostructures for advanced device applications.

Keywords: Oxide TFTs, Sol-gel/sputtering process, Oxygen vacancy control, Optoelectronic properties, Environment-friendly   heterostructures

· Sol-gel 및 sputtering 공정을 이용한 oxide TFT 제작

· Oxygen vacancy 제어를 통한 전기적 특성 조절

· 광응답 특성 및 optoelectronic 특성 분석

· 친환경 소재 기반 oxide heterostructure 연구

KR: 산화물 및 이차원 소재 내 결함을 정량적으로 분석하고, 결함 제어를 통한 소자 성능 향상 전략을 제시.

EN: We quantitatively study defect states in oxides and 2D materials and develop characterization methodologies, including DOS analysis within the bandgap. Defect dynamics under temperature, bias stress, and optical excitation are systematized toward a defect-control database and defect engineering strategies.

Keywords: Characterization method development, DOS analysis inside energy gap, Defect control database, Defect engineering

· 결함 분석을 위한 새로운 전기적 특성 평가 기법 개발

· 에너지 갭 내 DOS (Density of States) 분석

· 온도, 바이어스 스트레스, 광자극에 따른 결함 거동 연구

· 결함 제어 데이터베이스 구축 및 defect engineering